博碩士論文 etd-0107111-213846 詳細資訊 論文種類 碩士論文 論文語文別 中文 論文名稱(中) 探針接觸特性對於晶圓良率測試之研究 ... 第五章 PROBE CARD與測試誤載 32 5-1 OPEN FAIL 32 5-2 LEAKAGE FAIL 32 5-3 FUNCTION FAIL 33 第六章 晶圓測試項目 34 6-1 DEVICE 6-2 6-4 FUNCTION 6-5 ...
旺矽 -- 20100905(董事長沒品) - M&E - 無名小站 旺矽在台灣懸臂式探針卡市佔為第一， Probe Card 的生產為勞力密集產業， 嫻熟的作業人員為其產能及品質的關鍵， 現在月產能約26~27 萬針，產能利用率介於75~85%， 旺矽Probe Card 的產品應用種類包括LCDDriver IC、Logic IC、及特殊型記憶體 IC， 以Drive...
南茂PROBE CARD工程師! - Yahoo!奇摩知識+ probe card 種類, probe card 廠商 PROBE CARD, 工程師, 南茂, 英文的自我介紹, 簡單的英文, Prober, nbsp, 英文, wafer, 設備 [ 快速連結 ] 其它回答( 0 ) | 意見( 5 ) | 評論( 0 ) 發問者評價 ...
成功大學電子學位論文服務 This is why the probe card manufacturers are willing to study or act for the high-speed, high-frequency, and high-parallel probe card. ... 3-1-1 探針卡種類 19 3-1-2 垂直式探針卡結構 3-1-3 垂直式探針卡優勢 26 3-1-4 垂直式探針 ...
probecard_百科 什麼是probe card? 答:probe card 中文為探針卡. 什麼是探針卡? 答:探針卡是一種測試介面，主要對裸芯進行測試，通過連接測試機和晶片，通過傳輸信號，對晶片參數進行測試。 為什麼要用探針卡? 近年來半導體製程技術突飛猛進，超前摩爾定律預估法則好幾 ...
半導體封裝測試概論 半導體材料及相關應用領域; 積體電路種類; 積體電路製造; 封裝技術發展 ... 種類. 積體電路種類. 邏輯(Logic) : CPU , 晶片組(Chip_Set),繪圖晶片… ... Probe Card.
檢視/開啟 - 國立中正大學 Probe card is a very important tool for wafer testing. ... Keywords: wafer testing; probe card; overdrive; contact resistance; finite element ... 2-2 探針卡之種類.
重新詮釋記憶體測試定義 測能力的因素包括探針卡（Probe-card）技術和晶. 圓的尺寸，而限制終程測試並測 ... 可以彌補探針卡的成本，但萬一元件的種類很多. 樣，而且探針卡的設計是比較低 ...
半導體科技新聞- IC測試之發展趨勢- Semicondutor News ... 薄膜針測卡(Membrane Probe Card)是採用薄膜技術(Thin Film technology)製成。 ... 上億元，如Advantest之5581型，Teradyne之J973EP型都是這種類型的Tester。
ProbeCard測試環境的改善__臺灣博碩士論文知識加值系統 晶圓製造之後，進入的製程便是晶圓測試；而探針卡（probe card）在晶圓測試佔了很重要的地位，它是針測機（prober）與測試系統（ tester）、負載板（load board）之間的 ...
